JIACO Instruments 成立于 2014 年，由荷兰代尔夫特理工大学的两位科学家 Prof. Kees Beenakker 和 Dr. Jiaqi Tang 创办。JIACO发明了大气压微波等离子体开封技术（Microwave Induced Plasma，简称 MIP），该技术具备高刻蚀选择性、无刻蚀损伤、能够完整保留器件功能与原始失效点等优势，广泛应用于半导体失效分析与可靠性测试领域。

MIP 技术于 2022 年被纳入 JEDEC JESD22-B120 标准。自 2016 年首台设备交付以来，MIP 已被全球几乎所有领先的半导体公司采用，成为应对复杂失效分析和先进封装结构的主流解决方案。

在持续的技术发展过程中，我们始终与MIP用户保持紧密合作，围绕铜、镀钯铜、银、金引线，2.5D/3D 封装、砷化镓、RDL、SiP、PCB 等多种材料和结构，以及沾污、腐蚀、EOS 等复杂失效问题展开深入研究。相关成果已在 ISTFA、IPFA、ECTC 和 AEC 等国际会议上发表论文超过 30 篇。

https://jiaco-instruments.com/