北京雅世恒源科技发展有限公司成立于2003年，致力于为广大客户提供高性能的半导体故障检测系统，红外热成像测温系统、红外热成像仪、反射热成像测温设备，以及红外成像检测服务。

       公司有三大产品用于半导体和微电子领域：E-LIT半导体缺陷检测定位系统（中波红外）；显微红外成像测温系统；反射热成像测温系统。设备主要用于器件的结温测量和热点故障定位功能。

E-LIT 半导体缺陷红外检测定位系统是一种动态红外热成像分析设备，与稳态热成像相比，可提供更好的信噪比、更高的灵敏度和更高的特征分辨率。系统配备优异的红外热像主机、高品质光学组件以及先进锁相算法程序，使得系统可在最短测量时间里对半导体的缺陷进行非接触式、能可靠的检测出mk甚至uK的微弱温差，并显示缺陷的X、Y位置。系统在半导体失效分析中用于定位线路短路、ESD 缺陷、氧化损坏、缺陷晶体管和二极管以及器件闩锁等故障位置。

TMlR 高精度显微红外成像测温系统以先进的中波制冷型红外热像仪为核心，配合高性能专业热图测量分析软件、多种经严格优化设计的高质量红外显微镜头、全自动对焦系统以及多种功能组件，可清晰准确呈现微米级（空间分辨率1.5微米）微小结构的温度分布情况。系统已在器件可靠性分析和热管理方面有广泛的应用，例如IC器件结温测量、第三代半导体器件结温测量等。

Image TR 系列反射热成像测温系统其原理是通过检测样品表面反射率的变化来测量器件表面的温度分布，设备具有高时间分辨率（50纳秒），高空间分辨率（300纳米）的特点，能够准确测量GaN HEMT等射频、微波功率器件，FinFET  MOSFET 和 IGBT等功率器件，光电子器件的稳态和瞬态（脉冲模式下）温度分布。

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