《利用光学计量技术研究先进封装工艺中的翘曲与微观结构表征》

    Joonho You

   Nexensor Inc. 首席执行官

演讲人简介：

Joonho You 现任 Nexensor Inc. 首席执行官。他毕业于韩国科学技术院（KAIST），主修光学测量，拥有超过20年的研究、开发及技术商业化经验。他的研究方向涵盖：干涉测量技术、薄膜测量技术、以及基于图案投影法（如偏折法与莫尔条纹法）的三维形貌测量技术，此外还包括基于光纤的厚度传感器开发。